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破損電解槽鋁水中硅、鐵元素的光譜測定

2023年03月21日17:18 光譜分析論文

在鋁電解生產(chǎn)過程中,會出現(xiàn)一些破損槽致使金屬鋁樣中雜質(zhì)元素,特別是硅、鐵兩要雜質(zhì)元素的含量大幅度提高。硅、鐵元素含量的增大幅度與電解槽破損程度成正比例關(guān)系。如要跟蹤電解槽工作情況,實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過程的控制,就必須快速、準(zhǔn)確地測定硅、鐵的含量。

這種金屬鋁樣中,硅、鐵元素含量變化復(fù)雜,二者間含量變化也沒有一定的比例關(guān)系,在光譜同時(shí)測定時(shí),難以找到合適的內(nèi)控樣,在光譜儀精密度、穩(wěn)定性都較好的前提下,一個(gè)試樣光譜值的準(zhǔn)確度就基本上取決于內(nèi)控樣的定值。在測定這種金屬鋁樣時(shí)發(fā)現(xiàn),在鐵元素含量大于 2.6% 時(shí),硅、鐵相互干擾,并且隨二者含量變化不同而相互干擾的程度也不同。

在分析測試中同時(shí)發(fā)現(xiàn)光譜儀原裝的鋁合金分析程序,在鐵含量大于 3%時(shí)分析的準(zhǔn)確度差,原因可能是原鐵校準(zhǔn)曲線上點(diǎn)子數(shù)少,在大量試驗(yàn)的基礎(chǔ)上本文通過重新選擇分析線對,延伸原有曲線,回歸計(jì)算。這條重新校正過的鐵校準(zhǔn)曲線上點(diǎn)子數(shù)較多,分析準(zhǔn)

確度高,測定結(jié)果與化學(xué)法吻合。

通過大量試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),對于鐵含量大于 2.6% 的金屬鋁樣,可根據(jù)含量的大小分為兩類:第一類為硅含量大于 1% ;第二類為硅含量小于 1%。測定時(shí),對第一類鋁樣,在鋁合金分析程序中分別測定硅、鐵元素含量對第二類鋁樣,在普鋁分析程序測定硅含量,再在鋁合金分析程序中測定鐵元素含量,在對一個(gè)鋁樣進(jìn)行硅、鐵分別測定時(shí),分別使用相應(yīng)的內(nèi)控樣進(jìn)行單個(gè)元素含量的校正,本方法快速、準(zhǔn)確,經(jīng)與化學(xué)法比對十分吻合。


破損電解槽鋁水中硅、鐵元素的光譜測定

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