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儀器:135-0001-7008

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新品速遞 | 德國斯派克推出新一代 SPECTRO xSORT 手持式熒光(ED-XRF)光譜儀
新品速遞 | 德國斯派克推出新一代 SPECTRO xSORT 手持式熒光(ED-XRF)光譜儀

新版SPECTRO xSORT手持式熒光(ED-XRF)光譜儀是德國斯派克分析儀器公司結(jié)合自身對行業(yè)應(yīng)用的透徹領(lǐng)悟和現(xiàn)場金屬測量領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗,厚積薄發(fā)打造的一款創(chuàng)新型便攜式熒光光譜分析儀。集一系列實用功能和創(chuàng)新設(shè)計為一身,在大幅提高用戶的分析速度、保證易用性和操作便利性的同時,保持了德國制造的優(yōu)異分析性能。

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手持式土壤分析光譜儀 德國斯派克
手持式土壤分析光譜儀 德國斯派克

手持式能量色散型X-射線熒光(EDXRF)光譜儀無需進(jìn)行復(fù)雜的樣品制備,對復(fù)雜基體的環(huán)境類樣本提供非??焖僦苯拥脑販y量和光譜化學(xué)成分分析,SPECTRO xSORT光譜儀可以在極短的時間內(nèi)達(dá)到非常低的檢測下限,因此在現(xiàn)場測試中可以快速提供實驗室等級的測試結(jié)果。

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手持式XRF涂層測厚儀 德國斯派克
手持式XRF涂層測厚儀 德國斯派克

德國斯派克手持式涂層光譜儀應(yīng)用于包括Cr+純化,耐指紋,磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測度;模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測試。

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手持式土壤光譜分析儀 XRF 德國斯派克
手持式土壤光譜分析儀 XRF 德國斯派克

手持式土壤光譜分析儀 xSORT具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀,可滿足多種金屬基體材料以及土壤,塑膠,礦石等多種復(fù)雜材料的光譜化學(xué)成分分析需要。以其無與倫比的分析速度,媲美實驗室級的分析精度和便于操作的特點為同類型手持式光譜分析儀設(shè)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。

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RoHS分析X射線熒光光譜儀租賃 二手光譜儀買賣
RoHS分析X射線熒光光譜儀租賃 二手光譜儀買賣

RoHS分析X射線熒光光譜儀租賃 配置:德國斯派克X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀選配的樣品測試吊艙可將儀器轉(zhuǎn)化為臺式EDXRF,在保障任何樣品測試輻射安全的同時,極大的提升設(shè)備對極微小樣品測試能力并取得更低的檢測下限。

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VHG磨損金屬套標(biāo)
VHG磨損金屬套標(biāo)

美國VHG公司是世界最大的生產(chǎn)金屬油基和水基標(biāo)準(zhǔn)樣品的公司之一,為分析化學(xué)領(lǐng)域提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)。VHG Labs的所有產(chǎn)品均符合ASTM、NIST 等國際標(biāo)準(zhǔn),通過ISO9001:2000和ISO/IEC17025:2005認(rèn)證,所有產(chǎn)品配有全面分析證明書(Certificate Of Analysis,COA)。VHG Labs 的金屬有機(jī)標(biāo)樣通過 ICP、AA、RDE、DC、XRF 等儀器來分析測定油和有機(jī)溶劑中的金屬。另外,還提供符合 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)的含硫、氯和金屬標(biāo)樣用于石油類產(chǎn)品的檢測。

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有機(jī)濃縮物單元素標(biāo)油標(biāo)樣
有機(jī)濃縮物單元素標(biāo)油標(biāo)樣

無硫的金屬有機(jī)濃縮物尤其適用于X熒光光譜儀(XRF)。他們可用來制備單元素或多元素標(biāo)樣,可單獨 使用,也可成套使用。需要做硫和金屬的同步分析時,可在標(biāo)樣中加入硫。每瓶標(biāo)樣都會附帶一份分 析證書,證書上會表明該標(biāo)樣的濃度和其他痕量雜質(zhì)。

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日立EA1000AIII 臺式X射線熒光光譜儀,臺式XRF熒光分析儀
日立EA1000AIII 臺式X射線熒光光譜儀,臺式XRF熒光分析儀

EA1000AIII旨在加速和簡化生產(chǎn)環(huán)境中的RoHS測試。該分析儀有助于滿足當(dāng)前的RoHS、EN71和無鹵素指令,并允許隨著指令的變化更新物質(zhì)控制標(biāo)準(zhǔn)。

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日立EA1280 臺式熒光光譜儀,XRF分析儀
日立EA1280 臺式熒光光譜儀,XRF分析儀

日立EA1280 臺式熒光光譜儀適用于RoHS篩查和通用分析的高性能多用途XRF分析儀。

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日立X-Strata920 鍍層測厚儀,臺式XRF鍍層測厚儀
日立X-Strata920 鍍層測厚儀,臺式XRF鍍層測厚儀

X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 鍍層測厚儀,具有多種選擇,可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的涂層,適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析

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日立FT110A臺式XRF鍍層測厚儀,鋅層測厚儀
日立FT110A臺式XRF鍍層測厚儀,鋅層測厚儀

FT110A 是一款臺式 XRF 分析儀,旨在應(yīng)對生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強(qiáng)大的 X 射線熒光技術(shù)與自動定位功能相結(jié)合,有助于提高電鍍車間的生產(chǎn)力,同時確保組件符合嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。

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手持式XRF涂層測厚儀德國斯派克
手持式XRF涂層測厚儀德國斯派克

德國斯派克手持式涂層光譜儀應(yīng)用于包括Cr+純化,耐指紋,磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測度;模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測試。

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德國斯派克能量色散x射線熒光光譜儀 SPECTRO XEPOS
德國斯派克能量色散x射線熒光光譜儀 SPECTRO XEPOS

斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術(shù)的飛躍。它提供突破性的進(jìn)步multi-elemental分析專業(yè),小,微量元素濃度。新發(fā)展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準(zhǔn)確度。

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德國斯派克小型臺式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀 SPECTRO xSORT
德國斯派克小型臺式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀 SPECTRO xSORT

德國斯派克X射線熒光光譜儀 ROHS分析儀 SPECTRO xSORT-BT 選配的樣品測試吊艙可將儀器轉(zhuǎn)化為臺式EDXRF,在保障任何樣品測試輻射安全的同時,極大的提升設(shè)備對極微小樣品測試能力并取得更低的檢測下限

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實驗室快速分析:偏振XRF光譜儀
實驗室快速分析:偏振XRF光譜儀

斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術(shù)的飛躍。它提供突破性的進(jìn)步multi-elemental分析專業(yè),小,微量元素濃度。新發(fā)展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準(zhǔn)確度。

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德國斯派克偏振能量色散X熒光分析儀 SPECTROCUBE  ED-XRF
德國斯派克偏振能量色散X熒光分析儀 SPECTROCUBE ED-XRF

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德國斯派克小點能量色散X射線熒光(ED-XRF)光譜儀 貴金屬檢測儀
德國斯派克小點能量色散X射線熒光(ED-XRF)光譜儀 貴金屬檢測儀

元素分析的準(zhǔn)確性往往非常重要——尤其是在評估貴金屬時。對其他應(yīng)用來說,速度甚至更加重要:高樣品處理量的檢測中心要求快速且準(zhǔn)確的分析。此外,所有用戶都希望分析儀堅固、方便和容易操作,配備實用軟件,結(jié)果可輕松傳送到實驗室網(wǎng)絡(luò)。在處理貴金屬時,用戶當(dāng)然也很贊賞非破壞性取樣。

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手持光譜儀在不銹鋼生產(chǎn)線中的檢測優(yōu)勢
手持光譜儀在不銹鋼生產(chǎn)線中的檢測優(yōu)勢

不銹鋼廣泛應(yīng)用于建筑、機(jī)械、化工、醫(yī)療、餐具等行業(yè), 材料種類繁多(如304、316、430、2205等), 而它們之間的鉻(Cr)、鎳(Ni)、鉬(Mo)含量差異往往僅有幾個百分點。 在不銹鋼生產(chǎn)線或來料檢驗中, 如果不能及時、準(zhǔn)確地區(qū)分這些牌號, 不僅可能導(dǎo)致混料、焊接失效或產(chǎn)品不合格, 還會造成大批次返工與原料浪費。 因此,越來越多的不銹鋼廠、加工廠與回收企業(yè), 開始引入手持式光譜儀(Handheld XRF)來進(jìn)行快速現(xiàn)場檢測。

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手持光譜儀檢測鋁、銅、鎂合金的最佳方案
手持光譜儀檢測鋁、銅、鎂合金的最佳方案

隨著新能源汽車、航空航天、3C電子等行業(yè)的快速發(fā)展,鋁、銅、鎂等輕合金材料的應(yīng)用比例越來越高。 這些材料雖輕質(zhì)高強(qiáng),但在生產(chǎn)和回收過程中,成分控制極為關(guān)鍵。稍有偏差,就可能導(dǎo)致焊接性能差、硬度異?;虿牧蠄髲U。 傳統(tǒng)檢測方式如ICP或化學(xué)分析雖精準(zhǔn),但操作繁瑣、成本高昂、不適合現(xiàn)場檢測。 于是,越來越多的工廠選擇使用便攜式手持光譜儀(ED-XRF技術(shù)),實現(xiàn)快速、無損的合金成分檢測。

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ED-XRF光譜儀原理詳解
ED-XRF光譜儀原理詳解

ED-XRF(Energy Dispersive X-Ray Fluorescence,能量色散X射線熒光光譜)光譜儀是一種利用X射線激發(fā)樣品原子發(fā)射特征熒光的分析設(shè)備。 當(dāng)高能X射線照射到樣品表面時,樣品內(nèi)部的原子會吸收能量并發(fā)射出特征性的次級X射線信號。通過分析這些熒光的能量與強(qiáng)度,就能準(zhǔn)確判斷樣品中各元素的種類與含量。 簡單來說,ED-XRF光譜儀是一種“非破壞式元素分析技術(shù)”,可快速檢測金屬、合金、礦石、土壤、塑料等材料的成分組成。

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