日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品各有獨(dú)自的優(yōu)勢(shì)，針對(duì)不同類的樣品檢測(cè)各有著長(zhǎng)處之處，波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數(shù)用去牌號(hào)的快速檢測(cè)和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區(qū)別有哪些。

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個(gè)精密的測(cè)角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。

ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現(xiàn)了PC探測(cè)器的PHA調(diào)節(jié)不能正常進(jìn)行怎么處理，廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司工程師教你一招，自己也可以進(jìn)行故障排除。故障現(xiàn)象：進(jìn)行PHA日常調(diào)節(jié)時(shí)，PC探測(cè)器微分曲線譜峰太低，嚴(yán)重變形，無法計(jì)算分辨率、“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“因?yàn)槊}高微分曲線的譜峰太低，所以不能進(jìn)行PHA調(diào)節(jié)”，“維護(hù)信息”顯示：“可能使用了錯(cuò)誤的PHA調(diào)節(jié)樣品，或者PHA調(diào)節(jié)的條件設(shè)置錯(cuò)誤”。

ZSX Primus Ⅱ 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在檢測(cè)過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)，容易造成機(jī)器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現(xiàn)X光管故障的現(xiàn)象、產(chǎn)生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現(xiàn)象：正常使用過程中，X光管忽然關(guān)閉。“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“X射線發(fā)生器發(fā)生異常”，“維護(hù)信息”顯示：“探測(cè)到X射線發(fā)生器有異常情況”。原因分析：X射線發(fā)生器本

進(jìn)口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學(xué)推出的波長(zhǎng)熒光光譜儀，性能先進(jìn)，操作方便，已 廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、鋼鐵、冶煉、醫(yī)藥等多領(lǐng)域。但在實(shí)際使用過程中有時(shí)會(huì)出現(xiàn)這樣那樣的故障，影響正 常測(cè)試工作的及時(shí)性和測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，文章針對(duì)ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進(jìn)行的兩個(gè)常見的故障現(xiàn)象進(jìn)行介紹，介紹故障出現(xiàn)的問題、原因分析及解決方法，希望對(duì)大家有所幫助。初始化無法進(jìn)行故障一故障現(xiàn)象：安裝新光管后主機(jī)與計(jì)算機(jī)不能連接，也沒有錯(cuò)誤信息提示。原因分析：錯(cuò)誤現(xiàn)象表明計(jì)算機(jī)系統(tǒng)探

理學(xué)多年的積累研制的Supermini200 小型波長(zhǎng)色散型儀器， 由高性能的硬件和最新軟件的完美結(jié)合，使得臺(tái)式機(jī)具有高精度、高穩(wěn)定的機(jī)能。Supermini200 波長(zhǎng)色散型臺(tái)式X射線熒光光譜儀檢測(cè)性能非常的高，同一個(gè)畫面上的分析、測(cè)量、結(jié)果確認(rèn)操作簡(jiǎn)單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進(jìn)行高靈敏度的分析。Supermini200波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業(yè)元素分析檢測(cè)問題，大大提高工作效率。下面簡(jiǎn)單介紹其中部分分析應(yīng)用：部分應(yīng)用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分

隨著用戶的需要也變得先進(jìn)和多樣化，理學(xué)集團(tuán)長(zhǎng)年以來的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學(xué)集團(tuán)研發(fā)了先進(jìn)的XRF-ZSX Primus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應(yīng)用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在技術(shù)上更加的先進(jìn)，下面為大家簡(jiǎn)單介紹波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在部分領(lǐng)域中的應(yīng)用。部分應(yīng)用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法，是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）,從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩種，適用于測(cè)定鈹 (Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以

X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進(jìn)行的元素分析方法,采用探測(cè)器檢測(cè)特征X射線熒光的能量和強(qiáng)度,從而實(shí)現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡(jiǎn)單、重現(xiàn)性好、準(zhǔn)確度高、非破壞性和對(duì)環(huán)境無污染等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于多領(lǐng)域的樣品分析。硫化銅礦石作為國(guó)家戰(zhàn)略礦石之一,對(duì)其快速準(zhǔn)確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長(zhǎng),操作繁瑣,不適合日?？焖俜治龅囊?。開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測(cè)定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅

來源：分析測(cè)試百科網(wǎng)我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀(jì)80年代起，一些機(jī)械部件為電子線路所取代，電子線路又進(jìn)而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測(cè)角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的測(cè)角儀，2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的±0.001&d

X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù)，才能將X射線熒光光譜儀的效能發(fā)揮到極致，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標(biāo)準(zhǔn)樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù)，可以讓自己的檢測(cè)做到事半功倍的效果。一、X熒光光譜儀測(cè)試方法：　　1、X熒光光譜儀樣品制備進(jìn)行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對(duì)測(cè)定誤差影響很大。對(duì)金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌；化學(xué)組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計(jì)數(shù)率也不同；

手持式分析儀可以金屬材料快速分析，所以很多金屬回收的企業(yè)都選擇手持式分析儀在現(xiàn)場(chǎng)直接金屬?gòu)U料分揀回收。手持式分析儀對(duì)大型的金屬進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)手持式分析儀對(duì)細(xì)小的金屬現(xiàn)場(chǎng)分析！

不銹鋼分很多種，今天我們應(yīng)用戶的邀請(qǐng)，來他們公司用德國(guó)斯派克手持式分析儀測(cè)他們的大型食品罐，這些都是304或316材質(zhì)的不銹鋼。經(jīng)過幾秒鐘的時(shí)間測(cè)得的結(jié)果?？焖俅虺?04不銹鋼的牌號(hào)出來！

  ICP等離子體發(fā)射光譜經(jīng)過近30年的發(fā)展，已成為化學(xué)元素分析不可缺少的工具。其儀器的易用性、高靈敏度、高精度、干擾相對(duì)少等特點(diǎn)，已使ICP-OES系統(tǒng)成為冶金、油品、石化、巖礦、環(huán)保、水質(zhì)、生化等應(yīng)用領(lǐng)域中的最佳分析手段。  斯派克公司從開發(fā)出第一臺(tái)ICP光譜儀至今，全新且與眾不同的 SPECTROARCOS 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀是當(dāng)今世界上最靈活、最快速、強(qiáng)有力的ICP光譜儀。

等離子發(fā)射光譜儀(ICP光譜儀)的性能特點(diǎn)：電感耦合等離子體（ICP）是由高頻電流經(jīng)感應(yīng)線圈產(chǎn)生高頻電磁場(chǎng)，使工作氣體形成等離子體，并呈現(xiàn)火焰狀放電（等離子體焰炬），達(dá)到10000K的高溫，是一個(gè)具有良好的蒸發(fā)－原子化－激發(fā)－電離性能的光譜光源。而且由于這種等離子體焰炬呈環(huán)狀結(jié)構(gòu)，有利于從等離子體中心通道進(jìn)樣并維持火焰的穩(wěn)定；較低的載氣流速（低于1L/min）便可穿透ICP，使樣品在中心通道停留時(shí)間達(dá)2～3ms，可完全蒸發(fā)、原子化；ICP環(huán)狀結(jié)構(gòu)的中心通道的高溫，高于任何火焰或電弧火花的溫度，是原子、離子的最佳激發(fā)

徠卡清潔度檢測(cè)系統(tǒng)已有10 年以上的歷史，迄今為止已可以提供比較完善的清潔度整體解決方案，通過直觀的軟件，較精準(zhǔn)的、可重復(fù)的測(cè)量過濾膜上的顆粒，為客戶帶來更好的工作效率。為您提供高專業(yè)度的解決方案01系統(tǒng)的光路目前已經(jīng)是為清潔度專門設(shè)計(jì)，特有的自動(dòng)偏光能在掃描過程中直接快速準(zhǔn)確識(shí)別反光和非反光顆粒。自動(dòng)偏光法是根據(jù)反光與非反光顆粒的折射率不同，在偏振片下呈現(xiàn)出的明亮和黑暗，結(jié)合軟件的灰度判定來直觀準(zhǔn)確地判斷反光于非反光顆粒的。這種判定方法不受顆粒形狀的影響，只要是亞光顆粒，在偏振下就是全黑色的，而其余的顆粒就是反光

在汽車和運(yùn)輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中，產(chǎn)品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。徠卡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學(xué)顯微術(shù) (目視分析) 和激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) (化學(xué)分析) 相結(jié)合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜(EDS) 等其他方法進(jìn)行比較，在高效清潔度分析中占據(jù)著優(yōu)勢(shì)。查找和消除污染源更輕松 對(duì)于技術(shù)清潔度，最終目標(biāo)是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時(shí)間和精力識(shí)別污染源，

品質(zhì)穩(wěn)定才是優(yōu)質(zhì)我們平時(shí)講的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，指的都是質(zhì)量上乘的產(chǎn)品，比如商品的材質(zhì)更好，功能更強(qiáng)大，使用更安全。但從經(jīng)濟(jì)學(xué)的角度看，答案并不完全是這樣。在經(jīng)濟(jì)學(xué)里，優(yōu)質(zhì)的第一層含義是指勻質(zhì)。換言之，不是說廠商能把產(chǎn)品的品質(zhì)做得多好，而是說產(chǎn)品的品質(zhì)要維持一個(gè)穩(wěn)定的水平。同一批產(chǎn)品當(dāng)中，一件產(chǎn)品的品質(zhì)，跟另外一件產(chǎn)品品質(zhì)之間的差距不能大，而且差距越小越好。  性價(jià)比相當(dāng)才是優(yōu)質(zhì)  優(yōu)質(zhì)的第二層含義是指，為了提高產(chǎn)品的質(zhì)量所要付出的邊際成本應(yīng)該跟它得到的邊際收益相等。當(dāng)提高產(chǎn)品質(zhì)量的邊

很多行業(yè)所制造的設(shè)備、產(chǎn)品及其部件對(duì)污染都是極其敏感的，它們對(duì)于清潔度有著非常嚴(yán)格的要求。因此，人們追求具備自動(dòng)顆粒分析功能的測(cè)量系統(tǒng)，對(duì)產(chǎn)品和部件的清潔度進(jìn)行定量檢驗(yàn)，從而滿足汽車制造業(yè)、航空、微電子、制藥和醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)的要求。顆粒是主要污染物：工業(yè)領(lǐng)域?qū)η鍧嵍忍岢鲆筢槍?duì)交通運(yùn)輸（汽車/卡車、航空/航天、鐵路）、微電子（集成電路、印刷電路板、半導(dǎo)體），以及醫(yī)療衛(wèi)生（制藥和醫(yī)療設(shè)備）等行業(yè)所生產(chǎn)的污染敏感型產(chǎn)品及其部件，為提高其性能、可靠性并延長(zhǎng)使用壽命，人們對(duì)這些產(chǎn)品及其部件的清潔度提出了非常嚴(yán)苛的要求。污染

工業(yè)材料電鏡制樣領(lǐng)域- 獨(dú)特的精研一體機(jī)，幫你解決材料研磨，拋光，實(shí)時(shí)觀察，及脆性材料的切割精拋光等制樣難題 - 獨(dú)特的鞍場(chǎng)型離子槍，實(shí)現(xiàn)獨(dú)家的三離子束同時(shí)制樣，可以極其高效地獲得極大的離子束切割面 - 獨(dú)家的鞍場(chǎng)型離子槍，可以有效避免常規(guī)離子減薄產(chǎn)生的非晶層，薄區(qū)太小等不利因素 - 引以為傲的超薄切片技術(shù)，利用鉆石刀快速切割，可以獲得平整面或納米級(jí)超薄切片。短短3分鐘就可獲得超薄切片。